Лабораторний прилад для контролю шорсткості найвищого класу точності з персональним комп’ютером. Призначений для визначення всіх звичайних параметрів шорсткості за діючими в даний час нормам, розрахунок спеціальних параметрів. Необмежене число вимірювальних програм і протоколів. Можливість використання будь-яких принтерів, підтримуваних Windows. Можливість сполучення з усіма програмами Windows, наприклад Winword, Excel, Write, Access тощо. Є можливість контролю мікро- і макропрофілей, а також визначення топографії поверхні.

Основні технічні характеристики.
Клас точності по DIN 4772: 1.
Діапазони вимірювання:

• +/- 8 мкм (роздільна здатність 1 нм);
  
• +/- 80 мкм (роздільна здатність 10 нм);
  
• +/- 800 мкм (роздільна здатність 100 нм);
  
• +/- 8000 мкм (роздільна здатність 1000 Нм).
  

Фільтри: RC (DIN 4768), M1 (DIN EN ISO 11562-1), M2 (DIN EN ISO 13565-1) та інші за нормами ISO 3274/11562.

Параметри шорсткості поверхні, що вимірюються: Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, Rsk, Imo, Io, Idq, da, ln, La, Rz-ISO, R3z, Rpm, Rp3z, R3zm, Rp, D, Rpc, RSm, Rpm / R3z, lr, Rku, tpif, tpia, tpip, tpic, Rt / Ra, Rz1, Rz2, Rz3, Rz4, Rz5, Rmr, Rmr%, Api по DIN EN ISO 4287. Rk параметри по DIN EN ISO 13565: Rpk *, Rpk, Rk, Rvk, Rvk *, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo (70%) 0.01 *, Rv / Rk.

Мови інтерфейсу: німецька, англійська, французька, італійська, іспанська, чеська.

Конструктивні особливості: прилад для контролю шорсткості і профілю використовує пристрій подачі Waveline 120 новітньої конструкції для контролю шорсткості з використанням технології CAN-BUS. Закритий компактний кожух з вбудованим дисплеєм з освітленням, для індикації всіх системних повідомлень і положення. М’яка клавіатура для позиціонування пінолі з 3 ступенями швидкості. Вбудована високоточна базова площина.