HOMMEL NANOSCAN 855

Виробник:

ДВА В ОДНОМУ

HOMMEL nanoscan 855 комбінований прилад для одночасного контролю шорсткості і контуру поверхні за один прохід.

УЛЬТРА-ТОЧНА ОПТИКО-МЕХАНІЧНА ВИМІРЮВАЛЬНА СИСТЕМА

Для синхронного вимірювання характеристик шорсткості і контуру поверхні на криволінійних і похилих поверхнях необхідна високоточна вимірювальна система з широким вимірювальним діапазоном. HOMMEL nanoscan 855 це ПОНАД-точна вимірювальна система з роздільною здатністю 0,6 нанометра на діапазоні 24 мм. Одночасно з високою точністю ходу даний прилад має чудові точносні характеристики параметрів мікро-геометрії і контуру в широкому діапазоні.

АВТОМАТИЗОВАНИЙ ЦИКЛ ВИМІРЮВАННЯ

Станція для контролю шорсткості nanoscan 855 поряд з високою точністю забезпечує високу швидкість вимірювання повністю в ЧПК режимі, що гарантує високу продуктивність в контролі якості.

Функціональні характеристики

  • Ергономічний дизайн
  • Система активного придушення вібрації
  • Управління станції з джойстиком
  • Вимірювання шорсткості і контуру за один прохід
  • Немає потреби у вирівнюванні поверхні перед виміром, що економить час
  • Можливість вимірювання шорсткості на сферах
  • Наднизькі внутрішні шуми
  • Підходить для вимірювань поверхонь з високою чистотою обробки
  • Вимірювання параметрів елементів профілю з високою точністю:
    кола (радіуса, діаметри, міжцентрові відстані), ділянки контуру (відстані, кути, кроки, прямолінійність, автовирівнювання) тощо.

Технічні характеристики

Параметр од. вимір. величина
В горизонтальній площині
Довжина трасування мм 0,1 … 200
Швидкість трасування мм/с 0,05 … 10
Швидкість вимірювання мм/с 0,05 … 5
Інтервал вибірки даних мкм 0,01 … 10
Прямолінійність ходу мкм/мм 0,4 / 200
У вертикальній площині
Вимірювальний діапазон мм 24
Роздільна здатність нм 0,6
Вимірювальне зусилля мН ±0,5 … 50

Немає завантажень для цього продукту.